تخمین عیب در سیستم‌های منفرد دوخطی

Authors

Abstract:

سیستم‌های منفرد به طور طبیعی در بسیاری از سیستم‌های فیزیکی و عملی در مسائل کنترل وجود دارند. همچنین، دسته بزرگی از سیستم‌های غیرخطی را که نمی‌توان با سیستم‌های خطی تقریب زد، توسط سیستم‌های دوخطی با دقت بیشتری تقریب زده می‌شوند. از طرف دیگر، عدم تشخیص به موقع عیب به وسیله کاربر در سیستم‌های حساس، منجر به صدمه دیدن و از بین رفتن مقادیر قابل توجهی از امکانات و اطلاعات خواهد شد. لذا، به دلیل اهمیت سیستم‌های منفرد دوخطی در مدل کردن سیستم‌های فیزیکی و تاثیر نامطلوب عیب بر روی عملکرد سیستم‌ها، در این مقاله به تشخیص و آشکارسازی عیب در سیستم‌های منفرد دوخطی با ورودی اختلال و عیب نامعین با استفاده از مشاهده‌گر دوخطی مدلغزشی پرداخته شده است. برای این منظور، ابتدا سیستم منفرد دوخطی تجزیه شده و سپس یک مشاهده‌گر مدلغزشی برای آن در نظر گرفته شده است. به علاوه، روشی برای آشکارسازی و جداسازی عیب بر پایه مشاهده‌گر فوق ارائه شده است. در انتها، نتایج شبیه سازی برای یک مثال عددی آورده شده است.

Upgrade to premium to download articles

Sign up to access the full text

Already have an account?login

similar resources

تخمین عیب در سیستم های منفرد دوخطی

سیستم های منفرد به طور طبیعی در بسیاری از سیستم های فیزیکی و عملی در مسائل کنترل وجود دارند. همچنین، دسته بزرگی از سیستم های غیرخطی را که نمی توان با سیستم های خطی تقریب زد، توسط سیستم های دوخطی با دقت بیشتری تقریب زده می شوند. از طرف دیگر، عدم تشخیص به موقع عیب به وسیله کاربر در سیستم های حساس، منجر به صدمه دیدن و از بین رفتن مقادیر قابل توجهی از امکانات و اطلاعات خواهد شد. لذا، به دلیل اهمیت ...

full text

تعمیم روش hss برای سیستمهای خطی منفرد

سیستمهای خطی منفردax=b,را در نظرمی گیریم، که aبزرگ و تنک است و دارای جواب تکراری می باشد،روش های عددی زیادی برای حل سیستمهای خطی منفرد ax=b وجود دارد که در فصل دوم بعد از قید تعدادی تعریف که در فصل اول آمده، به چند نمونه ی آن اشاره شده است. در این پایان نامه اساس کار روی جداسازی های هرمیتی و پادهرمیتی (hss) ماتریس ضرایب است. برای درک بهتر در فصل سوم،خلاصه ای از روش hss آورده شده است.بقیه ی این ...

15 صفحه اول

تحول مفهوم عیب در مسئولیت ناشی از عیب تولید

تحولات حوزه مسئولیت مدنی زمینه ظهور دو نظریه جدید از عیب در کالاهای صنعتی را فراهم نمود که مطابق یک نظریه، عیب کالا عبارت است از تخطی از عرف صنعتی و مطابق نظریه دیگر عیب عبارت است از تخطی از انتظارات متعارف یک مصرف‎کننده معمولی. تقابل این دو نظریه در رأی حاضر به‌خوبی نشان داده شده که مبین آن است در رویه قضایی آمریکا نسبت به پذیرش «انتظار مصرف‏کننده» به‎عنوان معیار سلامت و عیب کالا اختلاف وجود د...

full text

طراحی تخمین گر عیب با استفاده از تکنیک H∞ مبتنی بر داده

چکیده: در این مقاله یک روش مبتنی بر داده برای تخمین عیب در سیستم­های کنترلی ارائه شده است. مسئله تخمین عیب در چارچوب یک مسئله کنترلی در حوزه زمان مطرح و روش  برای حل آن به کار برده شده است. در اینجا فرض شده که مدل ریاضی فرایند در دسترس نیست و فقط داده­های ورودی و خروجی برای طراحی آشکارساز عیب به کار برده می­شوند .  معیار عملکرد آشکارسازی  عیب، مینیمم­سازی خطای تخمین عیب درنظرگرفته شده است. همچ...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


Journal title

volume 2  issue 7

pages  37- 43

publication date 2011-11-01

By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023